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光致发光吸收光谱PL和UV

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UV-VIS是一种测量材料的透射率,反射率和吸收率的装置。可以通过测量的透射或吸收光谱来调节材料的测量带宽。
荧光光谱是电致发光光谱,通常用于观察缺陷。
PL光谱是光致发光,其是用特定波长的光激发材料以引起光致发光的方法。由于与电子重新组合的光生空穴发出荧光,因此吸收峰的波长与紫外光几乎相同,但吸收峰的强度表现出复合率。随着网络缺陷的数量增加(结晶度差)并且峰高(加上复合率)更大,PLE对应于PL并且PL表示样品在长度方向上可见。在响应区域中,理论上,如果样品的发射峰值在580nm处,则在580nm处检测到并且测量PLE。如果最大峰值为350,则意味着样品激发至350时产生的峰值最高。
通常,PLE和PL彼此确定。
这两个不是在一台仪器上测量的,软件是不同的。紫外线辐射从整个波段发射光,PL发射特定波长的光。

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